Указ No 71/2004 Кол.
Настроювання вимог до вимірювальних вузлів апаратом Епштейн для вимірювання магнітних властивостей листів для електрообладнання
Чинний
Чинний від 01.03.2004
71.70 р.
ВИЗНАЧЕННЯ
від 3 лютого 2004
укладання вимог до вимірювальних агрегатів з апаратом Епштейн для вимірювання магнітних властивостей листів для електрообладнання
Міністерством промисловості та торгівлі України за результатами розділу 27 Закону No 505 / 1990 Coll., про Метрологія, як змінено Актом No 119 / 2000 Coll. та Акт No 137 / 2002 Coll., (" Акт") для здійснення секцій 6 (2) та 9 (1) Акту:
Цей Указ встановлює вимоги до вимірювальних комплектів з апаратом Epstein для вимірювання магнітних властивостей електричних листових металів (далі – «вимірювальні збірки»), порядок затвердження їх та порядок їх перевірки.
Термінологія, вимоги до складання вимірювальних вузлів, а також порядок затвердження вимірювальних вузлів та порядок їх перевірки в додатку.
Цей Указ діє на 1 березня 2004 року.
Міністр:
Урбан В. Р.
Додаток до Указу No 71 / 2004 Coll.
1 ТЕРМІНОЛОГІЯ
1.1 Збір вимірювань використовується для вимірювання амплітуди характеристик і специфічних втрат листів для електрообладнання. Він складається з інструментів і пристроїв, підключених до зображень 1 до 3 і вказаних в пункті 2.
1.2 Пробовідбірник для вимірювального комплекту Епштейна - це вибірка, яка відповідає вимогам цієї постанови та використовується виключно для метрологічної безперервності вимірювання.
1.3 Комплект вимірювань еталона - це вимірювальний набір, який знаходиться в точці 1.1, який проводиться метрологічною установою, контролюється за тривалим періодом часу і є міжнародним у порівнянні з зразками етхалону.
1.4. Вимірювані втрати, вимірювані за допомогою збирання, є втратами шляхом ремагнетизації в вимірюваному зразка відносно активної маси зразка.
1.5 Характерна амплітуда є залежність амплітуди магнітної поляризації в зразках на магнітному полі у зразках.
2 ОБЛАДНАННЯ ДЛЯ МЕТОДІВ
2.1. Методичні рекомендації
Збірка вимірювання складається з деталей, які повинні відповідати наступним вимогам:
(а) Апарат Епштейна, як зазначений в 2.2;
(b) вимірювання частоти за допомогою помилки 0,1% або менше;
(c) вольтметр, що вимірюється з помилкою 0,2% або менше;
d) ефективний вольтметр вимірювання з помилкою 0,2% або менше;
(e) вимірювач потужності з похибкою 0,5% або менше при поточному коефіцієнті потужності і гребінці, опір напруги лічильника потужності становить не менше 5000 разів більше, ніж його реагантів;
(f) вольтметра амплітудного вимірювання з похибкою 0,5% або менше в поєднанні з опорним струмом і значенням, відомого з похибкою 0,2% або менше (замість вольтметра амплітуди з опорою, взаємна індуктивність може бути використана з поверхневим струмом в первинному обмотку і значення, що відома з похибкою 0,2% або менше при двополюсному перемикачі і значним вольтметром);
(г) джерело магнітного струму з низькою віддачею імпульсу і високою швидкістю напруги і частоти, коливання напруги і частоти не перевищує 0,2% від використовуваного значення. Для вимірювання специфічних втрат передбачений вторинний коефіцієнт напруги 1,111 ± 1 відсотків.
Збірка вимірювань включає зразки еталону, які відповідають магнітним властивостям і масу зразків, як правило, вимірюваних збором вимірювання. Ці зразки відповідають відповідним вимогам пункту 2.2.
2.2 Технічні умови
2.2.1. Будівництво
2.2.1.1 Апарат Епштейн
Апарат Епштейна складається з чотирьох котушок, в яких вводяться стрічки тестового зразка гальванічної плити. Котушки виготовлені з твердого ізоляційного матеріалу, мають прямокутний перетин з внутрішньою шириною 32 мм. Рекомендована внутрішня висота - 10 мм. Котушки встановлюються на ізоляційну і немагнітну пластину, що утворює площу. Довжина бічної частини квадрата внутрішніх країв стрічки вставляється 220 + 1 -0 мм.
Кожна котушка має два обмотки - зовнішні первинні обмотки та внутрішні вторинні обмотки. Є електростатичний щиток між ними. Намотування відбувається рівномірно над довжиною 190 мм, кожна котушка має один квартал загальної кількості оборотів. Основний обмоток всіх котушок послідовний, а також вторинний обмоток всіх котушок. Кількість поворотів не призначають, але зазвичай 700 для використання при частоті 50 Гц.
З метою зменшення впливу намотування обмотки слід дотримуватись наступних умов:
Р1 / Н12 ≤ 1,25.10- 6, Р2 / Н22 ≤ 5.10- 6, (1)
L1 / N12 ≤ 2,5.10- 9 H, L2 / N22 ≤ 2,5.10- 9 H, (2)
де Р1 і Р2 є опорою первинної або вторинної обмотки,
L1 і L2 індукція первинної або вторинної обмотки,
N1 і N2 є загальною кількістю оборотів первинної та вторинної обмотки.
Апарат Епштейна необхідно компенсувати за допомогою магнітного потоку повітря. Для цього в середині простору закривається котушками апарату Епштейна, її вісь перпендикулярно площині, що утворюється осями котушки апарату Епштейна. Основне обмотування цієї компенсаційної котушки підключено в серії з первинним обмотуванням апарату Епштейна і вторинного обмотування підключено в серії з вторинним обмотуванням апарату Епштейна, щоб індукована напруга в цих вторинних обмотках була протилежною поляризацією. Встановлення величини компенсаційного індуктора полягає в тому, що напруга вимірюється між вільними відключені кінці вторинної обмотки не більше 0,1% напруги на вторинному обмотку некомпенсованого апарата Епштейна при проходженні через чергування струму первинним обмотоком при порожньому пристрої Епштейна (заглушки не вставляються).
2.2.1.2 Etalon зразки
Збірка вимірювань включає в себе еталонні зразки для апарату Епштейна (надалі «еталонні зразки»). Ці зразки покривають діапазон магнітних властивостей і маси зразків, як правило, вимірюється за допомогою складання вимірювань.
Еталонні зразки виготовляються з електричної сталі. Стрічки еталонного зразка повинні бути плоскими, вирізати без видимих лопців і нерівномірних країв і, якщо зазначено, обробити тепло. Стрічки повинні бути чистими, вільні ганчі та інші домішки. Зразкові смуги повинні мати такі розміри:
ширина 30 ± 0,2 мм, довжина більше або дорівнює 280 мм і менше, ніж або дорівнює 320 мм.
Довжина смужок однакова з толерантністю ± 0,5 мм. Коли стрічки розрізають паралельно або перпендикулярно напрямку прокатки, краї стрічки або каструлі беруться в якості довідкового напрямку. Зразкові смуги, виготовлені з орієнтованого матеріалу, мають напрямок довший осі стрічки, відрізняється від напрямку прокатки максимальною ± 10. У випадку зразків з неорієнтованого матеріалу половина смужок має напрямок більшої осі, що дорівнює напрямку прокатки з толерантністю не більше ± 50, а інша половина має напрямок більш тривалої осі перпендикулярного напрямку до напрямку прокатки з толерантністю не більше ± 50. Кожна стрічка покаже напрямок прокатки. Довга осі смуги в напрямку прокатки вставляється в протилежні паралельні котушки апарату Епштейна і довший осі смуги перпендикулярно напрямку прокатки вставляється в залишилися котушки.
Кількість скотчів зразку пропускаємо на чотири. Активна маса еталонного зразка становить не менше 240 г для зразків довжиною 280 мм.
Ефективна довжина магнітного контуру мп зразка визначається за домовленістю 0,94 м. Активна маса зразка ma віддається відносинам
ма = m.lm / 4l, (3)
де
l - довжина пробки стрічки в м,
Лм - ефективна довжина магнітного контуру 0,94 м,
м - загальна вага зразка в кг,
ma - активна вага зразка в кг.
2.2.1.3 Настроювання вимірювання
2.2.1.3.1. Комплект вимірювання для вимірювання конкретних втрат
Комплект вимірювання для вимірювання конкретного розплавлення підключений за схемою на малюнку 1. магнітний струм повільно підвищується до необхідного значення спрямованої напруги ВВ124; У2м ВВ124; на вторинному обмотку пристрою Епштейна. Амперметр буде контролювати значення магнітного струму, щоб струм ватметра не перевантажується. Значення напруги обчислюється з необхідної магнітної поляризації амплітуду відповідно до:
U2m = 4-N2AJaRi / Rt, (4)
де
VY124; U2m VY124; є значним значенням спрямованої напруги, індукованої в вторинному обмотку в V;
Це частота в Гц,
N2 - загальна кількість поворотів вторинного обмотки,
А є перерізом зразка в м2,
Я амплітуда магнітної поляризації в Т,
Рі - загальний опір апарату в вторинному контурі,
Рт – сума вторинної вимивальної стійкості апарату Епштейна та компенсації взаємовідносин,
Переріз зразка обчислюється з рівняння
А = м / (4л ρm), (5)
де
І є перерізом зразка в квадратних метрах,
м - загальна вага зразка в кг,
l - довжина пробіркових смуг в м,
ρm є визначена щільність матеріалу зразка в кг / м3.
Рис.1
Амплітуда в первинному контурі забирається і напруга потім дорівнює необхідному значення. Співвідношення значення та ефективного значення індукованої напруги визначається індукованим коефіцієнтом напруги, який становить 1,111 ± 1%), %.
Сумарні втрати ПЦ будуть розраховані з ватметрових даних за даними:
Pc = Pm N1 / N2- (1,111 Mt 124; U2m Mt 124;) 2 / Рі, (6)
де
Pc - це сумарно розрахованих втрат зразка в W,
Pm є потужність, вимірюється ватметром в W,
N1 – загальна кількість поворотів первинного обмотки,
N2 - загальна кількість поворотів вторинного обмотування
Рі – загальна еквівалентна стійкість апарату в вторинній об’ємі,
VV124; U2m V124; є значним значенням спрямованої напруги, індукованої в вторинному обмотку в В.
Пс розраховується відповідно до відносин
Ps = Pc / ma = Pc / ma.4l / лм, (7)
де
Собаки є загальною специфічною втратою зразка в W / кг,
l - довжина пробки стрічки в м,
Лм - договірна ефективна довжина магнітного контуру в м (мл = 0,94 м),
м - загальна вага зразка в кг,
Ма - активна вага зразка в кг,
Pc розраховується загальна втрата зразка в W.
2.2.1.3.2. Комплект вимірювань для вимірювання амплітуди
Вимірювальний набір для вимірювання амплітудних характеристик підключено відповідно до діаграми на рисунку 2 або рисунку 3. Перед вимірюванням амплітудних характеристик, зразок невизначена шляхом встановлення змінного магнітного струму, що відповідає насиченій магнітній поляризації в зразках і зменшення його повільно до нуля.
Магнітна поляризація амплітуда Я визначається шляхом вимірювання значення спрямованої напруги, що індукується в вторинному обмотку відповідно до відносин (4).
Амплітуда магнітного поля в зразка Ha визначається шляхом вимірювання амплітуди струму в контурі первинної обмотки I1a, це вимірювання амплітуди напруги U1a на опорі R в з'єднанні, як показано на малюнку 1. I1a = U1a / R. Амплітуда інтенсивності магнітного поля розраховується з рівняння:
Ha = I1aN1 / лм, (8)
де
Амплітуда інтенсивності магнітного поля в зразках,
I1a - амплітуда магнітного струму в первинній схемі обмотки
Ім скорочено ефективну довжину магнітного контуру зразка
N1 – загальна кількість обертів первинного обмотування апарату Епштейна
Рис. 2
Крім того, амплітуда магнітного поля може бути визначена шляхом вимірювання середньої величини спрямованої напруги, індукованої в вторинному обмотку взаємоприводного МДФ, первинного обмотки якого підключено в серії з первинним обмотуванням апарату Епштейна в зв'язку за схемою на малюнку 3. При використанні цього методу необхідно перевірити форму часового курсу UDm oscilloscope, часовий курс повинен мати лише два переходи нуля протягом одного періоду. вольтметр, що вимірює вторинну напругу апарату Епштейна та перемикача, як показано на рисунку 3, може використовуватися як середній вольтметр, необхідний для вимірювання UDm.
Амплітуда магнітного поля розраховується від рівняння:
Ha = UDmN1 / 4-MDlm.Rv + Rm / Rv, (9)
де
MD - це взаємна індуктивність в схемі відповідно до рисунку 3 в H
РВ є внутрішньою стійкістю вольтметра значення в ∞,
Рм - опір вторинного обмотування взаємовідносин МДФ в ∞,
UDm є значенням спрямований напруги, індукованої в вторинному обмотку MD.
Рис. 3
2.2.2. Етикетки та позначки
2.2.2.1 Комплект вимірювання
Особливі написи та позначки на визначенні вимірювань будуть замінені технічним документацією, яка повинна бути складена і буде включати:
(а) перелік всіх вимірювальних приладів і обладнання, що належать до складання вимірювань, що вказують на виробники і виробничі номери і, де відповідні, похибки вимірювальних приладів і вимірювальних наборів, вказаних виробником;
(b) докладна і чітка схема підключення до відповідного типу вимірювання, технічних описів і інструкцій з експлуатації вузлів вимірювання;
(c) короткі описи методів вимірювання та потужності (наприклад, живлення підсилювача для закріплення синусів часового ходу магнітної індукції, вимірювання потужності за допомогою перетворювача на основі принципу відбору, використання комп'ютера управління),
(d) нижчі та верхні межі діапазонів, в яких буде використовуватися збірка вимірювання;
(e) імпеданс важливих компонентів і калібрів;
(f) список зразків еталону;
(г) калібрування або перевірка листів вимірювальних інструментів, які входять до складу збірки вимірювань, якщо проводиться калібрування або перевірка;
(h) контрольний лист звіту про вимірювання в подальшій перевірці;
(i) запис всіх вимірювань з еталонними зразками, що стосуються складання вимірювань.
2.2.2.2 Епштейн апарат
Позначено котушки апарату Епштейна. А, Б, С, Д. Кількість обертів первинної та вторинної обмотки вказується на апараті Епштейна та в документації складання вимірювань.
2.2.2.3 Etalon зразки
Зразок еталону вносять реєстраційний номер або листи, в той же, постійний і нездатний спосіб, на кожному патчі еталонного зразка.
Всі стрічки еталонного зразка будуть позначені таким чином, що їх склад в апараті Епштейна можливо в один спосіб.
Кожен еталонний зразок супроводжується листом, що вказується:
(а) реєстрація зразка етхалону;
(б) тип і тип матеріалу;
(c) переріз зразка,
(d) щільність зразка,
(e) вага зразка,
(f) кількість стрічок зразка,
(г) товщина, ширина і довжина стрічок зразка.
Якщо всі дані, які повинні бути включені в звітний аркуш, включені в аркуш для калібрування зразків, зразок еталона може не мати рекордного аркуша.
3. ЗАСТОСУВАННЯ
3.1. Порядок затвердження типу
3.1.1 Попередня оцінка
Оцінювання повноважень, на підставі експертизи документів1), що підтверджують, чи відповідає документація, а потім вимірювальна збірка вимогам цього Указу, вирішується продовження випробувань або подання пропозиції про негативне припинення випробувань.
3.1.2. Попереднє тестування за допомогою вимірювальних матеріалів
3.1.2.1. Заявник зобов’язується оцінювати повноваження не менше 2 одиниць еталонних зразків, що відносяться до тестового набору. Ці зразки покривають їх масу і їх магнітні характеристики діапазону маси і магнітні характеристики зразків, виміряних тестовим набором в межах тестового типу. Ці зразки еталону відповідають вимогам абзаців 2.2.1.2 та 2.2.2.3. Зразки еталона заявника будуть супроводжуватися копіюм записів зразків, де це доречно, попередньої перевірки зразків. Проведено зразки, що супроводжуються результатами та звітами про їх вимірювання за допомогою тестового набору в діапазоні випробувань, що проводяться не більше 3 місяців до дати доставки.
3.1.2.2. У випадку здачі зразків специфічні втрати та амплітуди характеристики, зазначені в пункті 2.2.1.3, вимірюються на вимірювальному наборі органу оцінки. Контрольний лист видається для вимірюваного зразка, що вказує на арифметичне значення з повторних вимірювань.
3.1.2.3. Відносні відмінності між вимірюванням специфічних втрат зразків еталону (пов’язаного з встановленим тестом) за встановленим тестом і еталоном, встановленим в%, розраховується.
δpi = (pli-p2i) .100 / p2i, (10)
де p1i є арифметичним центром вимірювання значення його величини специфічних втрат за допомогою тестового набору (зразки вимірювань, відправлених з заявника разом з еталонними зразками),
p2i - це арифметичний центр вимірювання його значення конкретних втрат за встановленим еталоном вимірювань (резиденції вимірювань, що наводяться в калібрувальний лист).
Відносні відмінності між певними втратами δpi, записаними в цьому тесті, повинні бути менше 3% для зразків орієнтованого матеріалу для значень магнітної поляризації до 1,7 Т і для зразків неорієнтованого матеріалу для значень магнітної поляризації до 1,5 Т.
3.1.2.4. Відносні відмінності між вимірюванням амплітудних характеристик еталонних зразків (до комплекту вимірювальних випробувань) за встановленим вимірювальним тестом і встановленим еталоном в% буде обчислюватися як мінімальна стандартна відстань точки (Bi, Hi), характеристики, визначені вимірюванням вимірювань, встановленого з характеристикою, визначеного вимірюванням того ж еталонного зразка еталоном, встановленого згідно рівняння (11), (12) або (13):
δai = δBi.100 / --1 + Привіт / Bi.dB / dHi2 =
Ім'я IUPAC
δai = δHi.100 / --1 + Бі / Hi.dB / dHi-12 =
(12)
δai = δBi.δHi.100 / --δBi2 + δHi2 =
(13)
де на квадратних коренях беруть тільки позитивні і де
(14)
Ім'я IUPAC
δHi = (Hi -Hi) / ZV124; Привіт ZV124;
(17)
(dB / dH) я є нахилом кривої тангенсу, що надається шляхом вимірювання еталонного зразка еталоном, встановленого в точці (Hi, Bi'),
Привіт і Бі - значення інтенсивності магнітного поля або магнітної індукції точки ith, відповідно, характеристики еталонного зразка, вимірюваного заміром, встановленим,
Бі «є магнітне значення індукції, відхилений від характерних вимірювань еталону для значення Hi,
Привіт - це значення інтенсивності магнітного поля, відхилений від характеристик, вимірюваних еталоном, встановленим для значення Бі.
Відносна варіація при вимірюванні амплітуди характерна δai повинна бути менше 4% для всіх точок вимірювання характеристик еталонних зразків в цьому тесті.
3.1.3. Огляд складання тесту
Зовнішня перевірка та перевірка встановленої технічної документації проводиться в пункті використання складання тестового обліку. Зовнішня перевірка перевіряється:
(а) вимірювальна збірка не буде механічно пошкоджена;
(b) збірка вимірювань складається з вимірювальних інструментів, оферонів і компонентів, зазначених в документації;
(c) розташування вимірювальних інструментів та компонентів здійснюється відповідно до схеми електропроводки для відповідного типу вимірювання;
(d) повноти всіх документів, необхідних для точки 2.2.2.
3.1.4 Тест за вимірювальними матеріалами
Вимірювання зразків здійснюється шляхом вимірювання зразків еталону (допуск до складання еталону) випробувального метрологічного органу при його наявності тестового обліку, встановленого відповідно до пункту 3.1.2.
3.1.5 Нанесення технічної тестової звітності
Тестовий звіт містить опис та результати випробувань, здійснених відповідно до пунктів 3.1.2, 3.1.3 та 3.1.4, які мають позитивний результат. Також містить описи, креслення та схеми, необхідні для визначення типу та уточнення його функції.
3.2. Сертифікат типу
У окремому законодавчому акту (2) укладуть специфіку типового сертифікату.
4. ВЕРІФІКАЦІЯ
Початкова і подальша перевірка складається з тестів за абзацами 3.1.2, 3.1.3 та 3.1.4. Якщо результат всіх цих тестів є позитивним, а процес вимірювання відповідає вимогам, викладеним в цьому Регламенті, буде виданий контрольний лист, а тестовий набір буде надана офіційною позначкою (3).
1) Параграф 1 (2) Указу No 262 / 2000 Coll., що забезпечує консистенцію та точність вимірювальних та вимірювальних приладів, в залежності від Указу No 344 / 2002 Coll.
2) § 3 Указу No 262 / 2000 Coll.
3) § 6 Указу No 262 / 2000 Coll.
Увійдіть для нотаток, обраного та сповіщень
Інформація про нормативний акт
| Цитування | Указ No 71 / 2004 Coll., укладка вимог до вимірювальних вузлів апаратом Epstein для вимірювання магнітних властивостей листів для електрообладнання |
|---|---|
| Тип нормативного акту | - |
| Автор | - |
| Збірка | Збірка законів |
| Дата оприлюднення | 24.02.2004 |
|---|---|
| Чинний від | 01.03.2004 |
| Чинний до | - |
| Стан | Чинний |
Текст нормативного акту має інформаційний характер.
Коментарі 0