Указ No 71/2004 Сб.
Порядок установления требований к измерительным узлам с аппаратом Эпштейна для измерения магнитных свойств листов для электрооборудования
Действующий
Действует с 01.03.2004
71
Декларация
от 3 февраля 2004 года
установление требований к измерительным узлам с аппаратом Эпштейна для измерения магнитных свойств листов для электрооборудования
Министерство промышленности и торговли предусматривает в соответствии с разделом 27 Закона No 505/1990 Сб. о метрологии, с поправками, внесенными Законом No 119/2000 Сб. и Законом No 137/2002 Сб., («Закон») для осуществления разделов 6 (2) и 9 (1) Закона:
Настоящий Указ устанавливает требования к измерительным комплектам с аппаратурой Эпштейна для измерения магнитных свойств электрического листового металла (далее - "измерительные сборки"), порядок их утверждения и порядок их проверки.
Терминология, требования к дозирующим сборкам, а также порядок утверждения типа дозирующих сборок и процедура их проверки изложены в Приложении.
Указ вступает в силу 1 марта 2004 года.
Министр:
Ing. Urban v. r.
Приложение к Декрету No 71/2004 Сб.
1 ТЕРМИНОЛОГИЯ
1.1 Измерительный агрегат используется для измерения амплитудных характеристик и удельной потери листов для электрооборудования. Она должна состоять из приборов и устройств, соединенных с изображениями 1-3 и указанных в пункте 2.
1.2 Этилический образец для измерительного набора Эпштейна представляет собой образец, соответствующий требованиям настоящего постановления и используемый исключительно для метрологической непрерывности измерительной сборки.
1.3 Эталонная измерительная установка - это измерительная установка, упомянутая в пункте 1.1, которая проводится метрологическим учреждением, контролируется в течение длительного периода времени и сравнивается на международном уровне с помощью эталонных образцов.
1.4 Измеренные потери, измеренные измерительной установкой, представляют собой потери путем повторной намагничивания в измеренном образце относительно активной массы образца.
1.5 Амплитудной характеристикой является зависимость амплитуды магнитной поляризации в образце от амплитуды магнитного поля в образце.
2 Требования к договорам об измерении
2.1 МЕТОЛОГические требования
Измерительная установка должна состоять из частей, которые должны отвечать следующим требованиям:
a аппарат Эпштейна, как указано в пункте 2.2;
b) частотный измеритель с погрешностью 0,1% или менее;
с) средний вольтметр с погрешностью 0,2% или менее;
d) эффективный вольтметр с погрешностью 0,2% или менее;
(e) измеритель мощности с погрешностью 0,5% или менее при коэффициенте мощности тока и гребне, сопротивление цепи напряжения измерителя мощности должно быть не менее чем в 5000 раз больше, чем его реагенты;
(f) вольтметр амплитуды, измеряемый с погрешностью 0,5% или менее в сочетании с сопротивлением с соответствующим током и значением, известным с погрешностью 0,2% или менее (вместо вольтметра амплитуды с сопротивлением, взаимная индуктивность может использоваться с соответствующим током в первичной обмотке и значением, известным с ошибкой 0,2% или менее с двухполюсным переключателем и средним вольтметром);
g источник магнитного тока с низким выходным импедансом и высоким напряжением и стабильностью частоты, колебаниями напряжения и частоты не должен превышать 0,2% от используемого значения. Для измерения конкретных потерь должен быть предусмотрен вторичный коэффициент напряжения 1111 ± 1 процент.
Измерительная установка должна включать последующие эталонные образцы, которые должны соответствовать магнитным свойствам и массе образцов, обычно измеряемых измерительной установкой. Эти образцы должны соответствовать соответствующим требованиям пункта 2.2.
2.2 Технические требования
2.2.1 Строительство
2.2.1.1 Устройство Эпштейна
Аппарат Эпштейна состоит из четырех катушек, в которые вставляются ленты испытательного образца электроплит. Катушки изготовлены из жесткого изоляционного материала, они имеют прямоугольное поперечное сечение с внутренней шириной 32 мм. Рекомендуемая внутренняя высота составляет 10 мм. Катушки устанавливаются на изоляционную и немагнитную пластину, образуя квадрат. Длина стороны квадрата внутренних краев вставленной полосы составляет 220 + 1 -0 мм.
Каждая катушка имеет две обмотки — внешнюю первичную обмотку и внутреннюю вторичную. Между ними может быть электростатическое экранирование. Обмотка должна быть промотана равномерно на длину 190 мм, причем каждая катушка должна иметь одну четверть от общего числа витков. Первичная обмотка всех катушек является последовательной, а вторичная обмотка всех катушек является последовательной. Количество оборотов не предписано, но обычно 700 для использования на частоте 50 Гц.
Для уменьшения воздействия импеданса обмотки следующее импедансное сопротивление должно удовлетворять следующим условиям:
R1/N12 ≤ 1,25,10-6, R2/N22 ≤ 5,10-6, (1)
L1/N12 ≤ 2,5,10-9 Н, L2/N22 ≤ 2,5,10-9 Н, (2)
где R1 и R2 - сопротивление первичной или вторичной обмотки,
L1 и L2 являются индукцией первичной или вторичной обмотки.
N1 и N2 — общее количество витков первичной и вторичной обмоток.
Аппарат Эпштейна должен компенсироваться воздушным магнитным потоком. Для этого в середине пространства, заключенного катушками аппарата Эпштейна, помещается катушка взаимной индуктивности, ось которой перпендикулярна плоскости, образованной осями катушки аппарата Эпштейна. Первичная обмотка этой компенсационной катушки соединена последовательно с первичной обмоткой устройства Эпштейна, а вторичная обмотка соединена последовательно со вторичной обмоткой устройства Эпштейна, так что индуцированное напряжение в этой вторичной обмотке имеет противоположную полярность. Установка значения индуктивности компенсации такова, что напряжение, измеренное между свободными несоединенными концами вторичной обмотки, не превышает 0,1% напряжения на вторичной обмотке некомпенсированного устройства Эпштейна при прохождении через переменный ток первичной обмоткой на пустом устройстве Эпштейна (образец не вставлен).
2.2.1.2 Образцы эталонов
Измерительная установка должна включать эталонные образцы для аппарата Эпштейна (далее - "эталонные образцы"). Эти образцы должны охватывать диапазон магнитных свойств и массу образцов, обычно измеряемых измерительной установкой.
Этилонные образцы изготовлены из электрической стали. Ленты эталонного образца должны быть плоскими, разрезанными без видимых разрывов и неравномерных краев и, при необходимости, подвергаться тепловой обработке. Ленты должны быть чистыми, без тряпок и других примесей. Образцовые полоски должны иметь следующие размеры:
ширина 30 ± 0,2 мм, длина больше или равна 280 мм и меньше или равна 320 мм.
Длина полосок должна быть одинаковой с допуском ± 0,5 мм. Когда ленты вырезаются параллельно или перпендикулярно направлению качения, края ремня или панели принимаются в качестве эталонного направления. Образцовые полосы из ориентированного материала должны иметь направление более длинной оси ленты, отличное от направления прокатки максимум на ± 10. В случае образцов, изготовленных из неориентированного материала, половина полосок должна иметь направление более длинной оси, равное направлению прокатки с допуском не более ± 50, а другая половина должна иметь направление более длинной оси, перпендикулярное направлению прокатки с допуском не более ± 50. Каждая лента должна показывать направление прокатки. Более длинные осевы в направлении качения вставляются в противоположные параллельные катушки устройства Эпштейна, а более длинные осевы, перпендикулярные направлению качения, вставляются в оставшиеся катушки.
Количество лент образца делится на четыре. Активная масса эталонного образца должна составлять не менее 240 г для образцов длиной 280 мм.
Эффективная длина магнитной цепи образца lm определяется соглашением 0,94 м. Активная масса образца ma определяется соотношением
ma = m.lm / 4l, (3)
где
l - длина пробы ленты в м,
lm - эффективная длина магнитной цепи 0,94 м,
m - общий вес образца в кг,
ma - активный вес образца в кг.
2.2.1.3 Измерительная установка
2.2.1.3.1 Измерительный набор для измерения конкретных потерь
Набор измерений для измерения конкретного плавления соединен в соответствии с диаграммой на рисунке 1. Ток магнита медленно увеличивается до требуемого среднего значения направленного напряжения VV124; U2m VV124; на вторичной обмотке устройства Эпштейна. Амперметр должен контролироваться на величину магнитного тока таким образом, чтобы цепь тока ваттметра не была перегружена. Среднее значение напряжения рассчитывается по требуемой амплитуде магнитной поляризации в соответствии с:
U2m = 4-N2AJaRi / Ri + Rt, (4)
где
VY124; U2m VY124; является средним значением направленного напряжения, индуцированного во вторичной обмотке в V;
Это частота в Гц,
N2 - общее количество витков вторичной обмотки,
A - поперечное сечение образца в м2,
Я - амплитуда магнитной поляризации в Т,
Ri - общее сопротивление аппарата во вторичной цепи,
Rt — сумма вторичного сопротивления обмотки аппарата Эпштейна и компенсации взаимной индуктивности,
Поперечное сечение образца вычисляется из уравнения
A = m / (4l ρm), (5)
где
И является поперечным сечением образца в квадратных метрах,
m - общий вес образца в кг,
l - длина пробных полосок в м,
ρm - определенная плотность материала образца в кг/м3.
Рис.
Амплитуда в первичной цепи укорачивается, и напряжение затем равно требуемому значению. Отношение среднего значения и эффективного значения индуцированного напряжения определяется коэффициентом формы индуцированного напряжения, который должен составлять 1111 ± 1 процент.
Общие потери ПК рассчитываются по данным ваттметра в соответствии с:
Pc = Pm N1 / N2- (1,111 Mt 124; U2m Mt 124;) 2 / Ri, (6)
где
Pc - суммарные расчетные потери образца в W,
Pm - мощность, измеряемая ваттметром в W,
N1 - общее количество витков первичной обмотки,
N2 - общее количество витков вторичной обмотки
Ri - общее эквивалентное сопротивление устройства во вторичной окружности,
VV124; U2m V124; является средним значением направленного напряжения, индуцированного во вторичной обмотке в V.
Ps рассчитывается в соответствии с соотношением
Ps = Pc / ma = Pc / ma.4l / lm, (7)
где
Собаки - общая удельная потеря образца в W/кг,
l - длина пробы ленты в м,
lm - сжатая эффективная длина магнитной цепи в м (lm = 0,94 м),
m - общий вес образца в кг,
ma - активный вес образца в кг,
Pc - суммарные потери образца в W.
2.2.1.3.2 Измерительный набор для измерения амплитуды
Измерительный набор для измерения амплитудных характеристик соединен согласно диаграмме на рисунке 2 или рисунке 3. Перед измерением амплитудных характеристик образец должен быть немагнитизирован путем установки переменного магнитного тока, соответствующего насыщенной магнитной поляризации в образце, и его медленного уменьшения до нуля.
Амплитуда магнитной поляризации Ja определяется путем измерения среднего значения направленного напряжения, индуцированного во вторичной обмотке в соответствии с соотношением (4).
Амплитуда магнитного поля в образце Ha определяется путем измерения амплитуды тока в цепи первичной обмотки I1a, это измерение амплитуды напряжения U1a на соотношении сопротивления R, как показано на рисунке 1. I1a = U1a/R. Амплитуда интенсивности магнитного поля рассчитывается из уравнения:
Ha = I1aN1/лм, (8)
где
Ха - амплитуда интенсивности магнитного поля в образце,
I1a - амплитуда магнитного тока в первичном контуре обмотки
Им сокращается эффективная длина магнитной цепи образца
N1 - общее количество витков первичной обмотки аппарата Эпштейна
Рис.
Альтернативно, амплитуда магнитного поля может быть определена путем измерения среднего значения направленного напряжения, индуцированного во вторичной обмотке взаимной индуктивности MD, первичная обмотка которой соединена в ряде с первичной обмоткой аппарата Эпштейна в соединении согласно диаграмме на рисунке 3. При использовании этого метода необходимо проверить форму хода времени осциллографа UDm, курс времени должен иметь всего два прохода ноль в течение одного периода. Вольтметр, измеряющий вторичное напряжение устройства Эпштейна и переключателя, как показано на рисунке 3, может использоваться в качестве среднего вольтметра, необходимого для измерения UDm.
Амплитуда напряженности магнитного поля рассчитывается из уравнения:
Ha = UDmN1 / 4-MDlm.Rv + Rm / Rv, (9)
где
MD - взаимная индуктивность в цепи согласно рисунку 3 в H
Rv - внутреннее сопротивление вольтметра среднего значения в ∞,
Rm - сопротивление вторичной обмотки взаимной индуктивности MD v ∞,
UDm - среднее значение направленного напряжения, индуцированного во вторичной обмотке MD.
Рис. 3
2.2.2 Ярлыки и знаки
2.2.2.1 Измерительная установка
Специальные надписи и знаки на измерительной установке заменяются технической документацией, которая составляется и включает:
a перечень всех измерительных приборов и оборудования, относящихся к измерительной установке, с указанием изготовителей и производственных номеров и, при необходимости, ошибок измерительных приборов и измерительных комплектов, указанных изготовителем;
(b) подробную и четкую схему соединения для соответствующего типа измерения, технические описания и инструкции по эксплуатации компонентов измерительного узла;
(c) краткое описание методов измерения и питания (например, питание усилителем, заставляющим синусовый ход магнитной индукции, измерение мощности преобразователем на основе принципа выборки, использование управляющего компьютера);
d нижние и верхние пределы диапазонов, в которых будет использоваться измерительная установка;
e) импеданс важных компонентов и датчиков;
f) перечень эталонных образцов;
g калибровочные или проверочные листы измерительных приборов, которые являются частью измерительной установки, если калибровка или проверка проведены;
h проверочный лист отчета об измерениях при последующей проверке;
i) запись всех измерений с использованием эталонных образцов, относящихся к сборке измерений.
2.2.2.2 Устройство Эпштейна
Катушки аппарата Эпштейна должны иметь маркировку. A, B, C, D. Количество витков первичной и вторичной обмотки указывается на аппарате Эпштейна и в документации измерительного узла.
2.2.2.3 Образцы эталонов
Образец эталона должен иметь регистрационный номер или буквы одинаковым, постоянным и нестираемым образом на каждом участке образца эталона.
Все ленты эталонного образца должны маркироваться таким образом, чтобы их состав в аппарате Эпштейна был возможен единым способом.
Каждый эталонный образец сопровождается регистрационным листом с указанием:
a) регистрация образца этилона;
b) тип и тип материала;
с) поперечное сечение образца,
d) плотность выборки,
(e) вес образца,
f) количество лент образца,
g) толщина, ширина и длина лент образца.
Если все данные, подлежащие включению в регистрационный лист, включены в калибровочный лист образца, то эталонный образец может не иметь регистрационного листа.
3.Утверждение
3.1 Процедура официального утверждения типа
3.1.1 Предварительная оценка
Оценочный орган на основании проверки документов1 устанавливает, соответствуют ли документация, а затем измерительная установка требованиям настоящего Указа, принимает решение о продолжении испытаний или представляет предложение об отрицательном прекращении испытаний.
3.1.2 Предварительное испытание путем измерения образцов материалов
3.1.2.1 Заявитель должен представить органу по оценке не менее 2 образцов эталона, относящихся к испытательному набору. Эти образцы должны охватывать их массу и их магнитные характеристики, диапазон массы и магнитные характеристики образцов, измеренных испытательным набором в рамках типа испытания. Эти образцы этилона должны соответствовать требованиям пунктов 2.2.1.2 и 2.2.2.3. Этилонные образцы заявителя должны сопровождаться копией записей образцов, если это необходимо, предыдущих проверок образцов. Поставляемые образцы должны сопровождаться результатами и отчетами об их измерениях посредством испытания, установленного в диапазоне испытаний, проведенных не более чем за 3 месяца до даты поставки.
3.1.2.2 В случае сдачи образцов конкретные потери и амплитудные характеристики, указанные в пункте 2.2.1.3, измеряются на измерительном наборе органа по оценке. Для измеренного образца выдается проверочный лист с указанием среднеарифметических значений, полученных в результате повторных измерений.
3.1.2.3 Должна быть рассчитана относительная разница между измерением удельных потерь эталонных образцов (связанных с испытательным набором) испытательным набором и эталонным набором в процентах.
δpi = (pli-p2i) .100/p2i, (10)
где p1i - арифметический центр измерения значения зуда конкретных потерь испытательным набором (результаты измерений, отправленных от заявителя вместе с эталонными образцами),
p2i - арифметический центр измерения значения зуда конкретных потерь набором эталонных измерений (результаты измерений, приведенные в калибровочном листе).
Относительные различия между конкретными потерями δpi, зарегистрированными в этом испытании, должны составлять менее 3% для образцов ориентированного материала для значений магнитной поляризации до 1,7 Т и для образцов неориентированного материала для значений магнитной поляризации до 1,5 Т.
3.1.2.4 Относительные различия между измерением амплитудных характеристик эталонных образцов (принадлежащих испытательному набору измерений) с помощью испытательного набора измерений и эталонного набора измерений в процентах рассчитываются как минимальное стандартное расстояние точки хеширования (Bi, Hi), характеристики, определяемые путем измерения измеренного набора измерений с помощью характеристики, определяемой путем измерения того же эталонного образца с помощью эталонного набора измерений в соответствии с уравнением (11), (12) или (13):
δai = δBi.100 / --1 + Hi / Bi.dB / dHi2 =
Имя IUPAC
δai = δHi.100 / --1 + Bi / Hi.dB / dHi-12 =
(12)
δai = δBi.δHi.100/ --δBi2 + δHi2 =
(13)
где квадратные корни взяты только положительно и где
(14)
Название IUPAC
δHi = (Hi -Hi') / ZV124; Hi ZV124;
(17)
(dB/dH) i - наклон тангенсной кривой, заданный путем измерения эталонного образца эталонным измерительным набором в точке (Hi, Bi'),
Hi и Bi - значения интенсивности магнитного поля или магнитной индукции точки зуда, соответственно, характеристики эталонного образца, измеренные измеряемым набором измерений,
Bi — это величина магнитной индукции, вычитаемая из характеристики, измеренной эталонным набором измерений для значения Hi,
Значение интенсивности магнитного поля вычитается из характеристик, измеренных эталонным набором измерений для значения Bi.
Относительная разница в измерении амплитуды, характерной для δai, должна составлять менее 4% для всех точек измерения характеристик эталонных образцов в рамках данного испытания.
3.1.3 Проверка контрольно-измерительной установки
Внешняя проверка и проверка предписанной технической документации проводятся в месте использования контрольно-измерительной установки. Внешняя инспекция должна проверять:
а) измерительный прибор не должен быть механически поврежден;
b измерительная установка состоит из измерительных приборов, эталонов и компонентов, указанных в документации;
c расположение измерительных приборов и компонентов должно соответствовать схеме проводки для соответствующего типа измерения;
d) полноту всех документов, требуемых согласно пункту 2.2.2.
3.1.4 Испытание путем измерения образцов материалов
Измерение образцов производится путем измерения эталонных образцов (принадлежащих эталонному сборочному счетчику) испытательного метрологического органа в его присутствии посредством контрольного учета, установленного в соответствии с пунктом 3.1.2.
3.1.5 Составление отчета о технических испытаниях
Отчет об испытаниях должен содержать описание и результаты испытаний, проведенных в соответствии с пунктами 3.1.2, 3.1.3 и 3.1.4, которые должны иметь положительный результат. Он также содержит описания, чертежи и диаграммы, необходимые для идентификации типа и уточнения его функции.
3.2 Свидетельство об утверждении типа
Особенности свидетельства об утверждении типа устанавливаются отдельным законодательным актом (2).
4. Проверка
Первоначальная и последующая проверка должна состоять из испытаний в соответствии с пунктами 3.1.2, 3.1.3 и 3.1.4. Если результаты всех этих испытаний являются положительными и установка измерения соответствует требованиям, изложенным в настоящих Правилах, то выдается проверочный лист, и испытательная установка снабжена официальным знаком (3).
1) Пункт 1 (2) Декрета No 262/2000 Сб., который обеспечивает согласованность и точность измерительных и измерительных приборов, с изменениями, внесенными Декретом No 344/2002 Сб.
2) § 3 Декрета No 262/2000 Сб.
3) § 6 Декрета No 262/2000 Сб.
Войдите для заметок, избранного и уведомлений
Информация об акте
| Цитирование | Постановление No 71/2004 Сб., устанавливающее требования к измерительным узлам с аппаратом Эпштейна для измерения магнитных свойств листов для электрооборудования |
|---|---|
| Тип акта | - |
| Автор | - |
| Сборник | Сборник законов |
| Дата опубликования | 24.02.2004 |
|---|---|
| Действует с | 01.03.2004 |
| Действует до | - |
| Статус | Действующий |
Текст нормативного акта носит информационный характер.
Комментарии 0